數(shù)字式方塊電阻測試儀，電阻率測試儀，四探針薄膜電阻測試儀M-3
產(chǎn)品概述
M-3型數(shù)字式方塊電阻測試儀是一款基于四探針測量原理的多功能綜合測量設(shè)備，適用于半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜及涂層的電阻性能測試。該儀器采用模塊化設(shè)計，主機配備高精度數(shù)字顯示屏，支持手動/自動量程切換，并集成零位與滿度自校功能�？膳涮撞煌馁|(zhì)探針探頭，滿足硬質(zhì)材料（如硅片、金屬）與柔性材料（如ITO膜、納米涂層）的測試需求，同時通過四端子夾具擴展電阻器體電阻等測量場景。1619
核心功能與特點
儀器采用輕觸按鍵操作，測試結(jié)果直接通過數(shù)字表頭顯示，分辨率最高達0.001Ω。支持電阻（0.010-50.00kΩ）、電阻率（0.010-20.00kΩ-cm）及方塊電阻（0.050-100.0kΩ/□）多參數(shù)測量。其可充電鋰電池供電設(shè)計便于手持移動測試，適配不同尺寸樣品，手持模式無材料尺寸限制，加配測試臺后可支持Φ15-130mm圓片或180mm×180mm方片測試。探針組件可選碳化鎢硬質(zhì)探針或鍍金銅合金球形探針，兼顧耐磨性與接觸穩(wěn)定性。42327
應(yīng)用場景與適配性
該設(shè)備廣泛適用于半導(dǎo)體材料生產(chǎn)、科研機構(gòu)及高校實驗室，可對硅片、鋰電池極片、導(dǎo)電泡棉、金屬鍍層等材料進行導(dǎo)電性能分析。針對特殊應(yīng)用場景，如電池極片涂層測試，可選用專用箔上涂層探頭；而納米薄膜材料測試則適配高靈敏度球形探針。儀器的小型化設(shè)計（10×3.6×21cm）與一體化結(jié)構(gòu)使其適合實驗室固定安裝或現(xiàn)場移動檢測需求。62426
技術(shù)優(yōu)勢
采用數(shù)字化信號處理技術(shù)，有效降低測試誤差，重復(fù)性表現(xiàn)良好。測試電流范圍覆蓋1μA-10mA，多檔位設(shè)計適應(yīng)不同阻值區(qū)間。主機內(nèi)置數(shù)據(jù)保持功能，便于記錄關(guān)鍵參數(shù)。探頭采用寶石導(dǎo)向軸套結(jié)構(gòu)，顯著降低機械游移對測量結(jié)果的影響。環(huán)境適應(yīng)性強，可在0-40℃溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定工作。51521
數(shù)字式方塊電阻測試儀，電阻率測試儀，四探針薄膜電阻測試儀M-3
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