日本NAPSON非接觸接觸式二合一面電阻測(cè)試儀DUORES
產(chǎn)品概述
日本NAPSON公司推出的DUORES是一款創(chuàng)新型手持式面電阻測(cè)試儀，采用獨(dú)創(chuàng)的雙探頭可替換設(shè)計(jì)，兼具非接觸式渦流測(cè)試與接觸式四探針測(cè)試兩種測(cè)量模式，能夠適應(yīng)不同材質(zhì)和測(cè)量需求的電阻測(cè)試場(chǎng)景。儀器主機(jī)尺寸僅80×210×36mm，重量約350g，便于現(xiàn)場(chǎng)攜帶和操作。該設(shè)備支持AC100-240V寬電壓輸入，也可使用DC9V電池供電，滿足24小時(shí)連續(xù)工作需求。1
核心技術(shù)特點(diǎn)
DUORES的核心優(yōu)勢(shì)在于其模塊化探頭系統(tǒng)，用戶可根據(jù)被測(cè)材料特性靈活選擇渦流探頭（測(cè)量范圍0.5-200Ω/sq）或四探針探頭（測(cè)量范圍0.1-4000Ω/sq）。兩種探頭均支持自動(dòng)觸發(fā)測(cè)量功能，當(dāng)探頭接觸樣品表面時(shí)立即啟動(dòng)檢測(cè)流程。儀器采用4位浮點(diǎn)顯示屏，可存儲(chǔ)100組測(cè)量數(shù)據(jù)，并通過USB接口實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出。其非接觸式探頭采用φ25mm大面積傳感設(shè)計(jì)，接觸式探頭測(cè)試面積為3mm，確保測(cè)量精度與操作便利性。27
應(yīng)用場(chǎng)景說明
該設(shè)備適用于多種導(dǎo)電材料的電阻測(cè)量，包括但不限于ITO/TCO導(dǎo)電薄膜、LOW-E玻璃、納米銀線等金屬網(wǎng)格材料，以及各類柔性薄膜、紙張和玻璃基板。其非接觸模式特別適合表面易損或需要無損檢測(cè)的樣品，而接觸模式則適用于需要更高精度的常規(guī)測(cè)量。儀器對(duì)不同尺寸樣品具有良好適應(yīng)性，只要測(cè)試區(qū)域大于探頭尺寸即可完成測(cè)量。13
測(cè)量性能表現(xiàn)
在測(cè)量精度方面，DUORES非接觸探頭在0.5-100Ω/sq范圍內(nèi)重復(fù)性誤差≤3.0%，100-200Ω/sq范圍≤5.0%；四探針探頭精度可達(dá)±0.5%。設(shè)備提供Ω/□、S/□和金屬膜厚度(n/m)三種單位顯示，并能通過軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和處理。隨機(jī)配置包含主機(jī)、雙探頭、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片及充電器，用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇單一探頭配置方案。310
操作體驗(yàn)優(yōu)化
儀器設(shè)計(jì)注重用戶體驗(yàn)，配備智能感應(yīng)功能簡(jiǎn)化操作流程，探頭接觸樣品即自動(dòng)測(cè)量。JOG旋鈕設(shè)計(jì)便于快速設(shè)置參數(shù)，3.5英寸觸摸屏直觀顯示測(cè)量數(shù)據(jù)。設(shè)備具有環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)的特點(diǎn)，在復(fù)雜工業(yè)環(huán)境下仍能保持穩(wěn)定性能，是研發(fā)檢測(cè)和生產(chǎn)質(zhì)量控制環(huán)節(jié)的理想工具。69
日本NAPSON非接觸接觸式二合一面電阻測(cè)試儀DUORES
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