梅特勒ME104E電子分析天平是一款專為實驗室精密稱量需求設計的高性能設備,適用于制藥、化學分析、材料研究等領域。該產(chǎn)品在120g量程范圍內實現(xiàn)0.1mg的精確分辨率,能夠滿足微量樣品的高精度稱重要求,為實驗數(shù)據(jù)的可靠性提供保障。
設備采用一體化金屬結構設計,結合先進的傳感技術,有效降低環(huán)境震動和氣流干擾對測量結果的影響。配備智能溫度補償系統(tǒng),可實時修正環(huán)境溫度波動帶來的誤差,確保長時間測量的穩(wěn)定性。雙層防風罩設計進一步提升了抗干擾能力,即便在常規(guī)實驗室環(huán)境下也能快速獲取穩(wěn)定讀數(shù)。
操作體驗方面,ME104E配置了直觀的彩色觸摸屏界面,支持多國語言切換和自定義快捷菜單功能。內置多種稱量模式,包括動態(tài)稱量、百分比稱量及統(tǒng)計計算等實用工具,簡化復雜實驗流程。數(shù)據(jù)存儲功能可記錄多達2000組測量結果,并通過USB接口實現(xiàn)便捷的數(shù)據(jù)導出與設備連接。
人性化設計體現(xiàn)在細節(jié)處理上:水平指示器幫助快速校準設備,過載保護機制延長傳感器使用壽命,可拆卸防風罩組件便于清潔維護。產(chǎn)品采用低功耗設計,搭配自動待機功能,兼顧節(jié)能環(huán)保與設備耐用性需求。
該型號天平適用于實驗室常規(guī)樣品稱量、濾膜稱重、密度測定等場景,尤其適合需要重復性高精度測量的研發(fā)和質量控制環(huán)節(jié)。梅特勒提供專業(yè)技術支持和完善的售后服務體系,確保用戶獲得持續(xù)穩(wěn)定的使用體驗。