同惠LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀TH2811D是一款面向電子元器件生產(chǎn)、研發(fā)及質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域的高精度測(cè)量設(shè)備，可高效完成電感、電容、電阻等基礎(chǔ)元器件的參數(shù)測(cè)試。該儀器采用數(shù)字電橋原理，結(jié)合智能化測(cè)量算法，為用戶提供穩(wěn)定可靠的測(cè)試結(jié)果，適用于電子制造、實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、教育實(shí)訓(xùn)等多種場(chǎng)景。
TH2811D具備寬范圍測(cè)量能力，電容測(cè)量覆蓋0.0001pF至2000μF，電感測(cè)量范圍0.01μH至200H，電阻測(cè)試支持0.0001Ω至20MΩ的跨度，可滿足不同精度等級(jí)元器件的檢測(cè)需求。儀器搭載4.3英寸彩色液晶顯示屏，支持圖形化參數(shù)顯示與趨勢(shì)分析，測(cè)試數(shù)據(jù)可直觀呈現(xiàn)主參數(shù)、副參數(shù)及矢量關(guān)系，便于用戶快速判斷元器件特性。
在核心性能方面，設(shè)備采用高速信號(hào)處理技術(shù)，基本測(cè)量速度可達(dá)每秒10次以上，同時(shí)保持0.1%的基礎(chǔ)測(cè)量精度。內(nèi)置自動(dòng)量程切換功能，可智能識(shí)別待測(cè)元器件參數(shù)范圍，配合開路/短路校準(zhǔn)補(bǔ)償技術(shù)，有效降低測(cè)試夾具帶來的誤差。針對(duì)特殊測(cè)試需求，提供可編程測(cè)試模式，用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)置等效電路模型、測(cè)試頻率（20Hz-300kHz）和信號(hào)電平參數(shù)。
設(shè)備采用分體式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，測(cè)試端子與主機(jī)分離布局，有效減少環(huán)境干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。人性化操作界面配備數(shù)字鍵盤與旋鈕組合控制系統(tǒng)，支持中英文雙語菜單切換，結(jié)合USB數(shù)據(jù)接口可實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)出與設(shè)備固件升級(jí)。緊湊型機(jī)身設(shè)計(jì)兼顧便攜性與工作臺(tái)空間利用率，適用于產(chǎn)線快速檢測(cè)與實(shí)驗(yàn)室精密測(cè)量場(chǎng)景。
