CY2645B 電容測試分選儀
CY2645B電容測試分選儀是一款面向電子元器件生產(chǎn)與研發(fā)領(lǐng)域設(shè)計(jì)的高效測試設(shè)備，專注于電容類元件的性能檢測與自動化分選。該設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì)，支持多種電容參數(shù)的一體化測試，包括容值、損耗角、等效串聯(lián)電阻等關(guān)鍵指標(biāo)，能夠滿足不同規(guī)格電容器的快速檢測需求，適用于消費(fèi)電子、工業(yè)控制、通信設(shè)備等領(lǐng)域的生產(chǎn)質(zhì)檢環(huán)節(jié)。
在核心性能方面，設(shè)備通過優(yōu)化測試算法與硬件配置，實(shí)現(xiàn)高精度測量與快速響應(yīng)。其測試速度可根據(jù)用戶需求靈活調(diào)節(jié)，單次測試周期可控制在毫秒級，適配高效率產(chǎn)線節(jié)奏。系統(tǒng)內(nèi)置智能校準(zhǔn)功能，可自動修正環(huán)境因素對測試結(jié)果的影響，確保長期運(yùn)行的穩(wěn)定性。同時，設(shè)備配備多級分選輸出通道，支持自定義分檔參數(shù)設(shè)置，幫助用戶實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的批次管理。
操作交互方面，配備直觀的觸摸屏界面與多功能按鍵組合，支持測試數(shù)據(jù)實(shí)時顯示與歷史記錄查詢。通過USB接口可便捷導(dǎo)出測試報(bào)告，兼容主流數(shù)據(jù)格式，便于質(zhì)量追溯與統(tǒng)計(jì)分析。設(shè)備結(jié)構(gòu)采用防靜電與抗干擾設(shè)計(jì)，關(guān)鍵部件選用耐用材料，有效降低維護(hù)頻率。兼容多種封裝形式的電容測試需求，從貼片元件到插件式電容均可適配，為生產(chǎn)線提供高度靈活的測試解決方案。
CY2645B在提升用戶產(chǎn)能效率方面表現(xiàn)突出，其自動化測試流程可減少人工干預(yù)，配合可編程測試序列功能，能夠輕松應(yīng)對多品種、小批量的柔性生產(chǎn)需求。設(shè)備運(yùn)行功耗經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)，在保證性能的同時實(shí)現(xiàn)節(jié)能降耗，助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)綠色生產(chǎn)目標(biāo)。通過持續(xù)的技術(shù)迭代與用戶反饋優(yōu)化，該設(shè)備已成為電子元件制造領(lǐng)域值得信賴的測試工具。
測試參數(shù) C/D
測試頻率
100Hz,1KHz,10KHz 100Hz,1KHz 100Hz,1KHz,10KHz 1KHz,10KHz,100KHz 100Hz,1KHz
測試電平 0.3Vrms 0.3Vrms,1Vrms
0.3Vrms
測試精度
（基本量程內(nèi)） ±0.1（基本量程內(nèi)） ±0.2（基本量程內(nèi)）
測試范圍 C:0.01PF99999uF
D:0.00019.999 C:0.1PF99999uF
D:0.00019.999 C:0.01PF99999uF
D:0.00019.999 C:0.001PF999.9uF
D:0.00019.999 C:1PF99999uF
D:0.0019.99
測試速度 5次/秒
校準(zhǔn)功能 開路清“0”
顯示位數(shù) 主參數(shù)：5位，副參數(shù)：4位 主參數(shù)：4位，副參數(shù)：3位
分選功能 四檔分選 無
接口 打印接口
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